مطالعات طیف سنجی در تاثیر پلاسما بر نانوساختارهای دوبعدی سولفید تنگستن
Spectroscopic investigations of plasma treated WS2 layered structures
نویسندگان :
مجتبی زلفی ( دانشگاه بین المللی امام خمینی ره ) , سیده زهرا مرتضوی ( دانشگاه بین المللی امام خمینی(ره) ) , علی ریحانی ( دانشگاه بین المللی امام خمینی(ره) ) , پرویز پروین ( دانشگاه صنعتی امیر کبیر )
چکیده
در این پژوهش، نانوساختارهای دوبعدی سولفید تنگستن به روش رسوب دهی بخار شیمیایی گرمایی در دمای ١١۰۰سانتیگراد با استفاده از گاز حامل آرگون بر روی زیرلایه های سیلیکونی در کوره سه ناحیه ای رشد داده شدند و پس از آن تحت تاثیر پلاسمای گاز آرگون به مدت زمان ١۰ دقیقه قرار گرفتند. نتایج حاصل از مشخصه یابی پراش اشعه ایکس، طیف سنجی فرابنفش-مرئی و طیف سنجی رامان حاکی از تعداد لایه های نانوساختارهای دوبعدی سولفید تنگستن در اثر پلاسما بودکليدواژه ها
نانوساختارهای سولفید تنگستن ، رسوب دهی بخار شیمیایی گرمایی، پلاسمای گاز آرگونکد مقاله / لینک ثابت به این مقاله
برای لینک دهی به این مقاله، می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است :نحوه استناد به مقاله
در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:پرویز پروین , 1401 , مطالعات طیف سنجی در تاثیر پلاسما بر نانوساختارهای دوبعدی سولفید تنگستن , سومین کنفرانس ملی میکرو/نانوفناوری
دیگر مقالات این رویداد
© کلیه حقوق متعلق به دانشگاه بین المللی قزوین می‌باشد.