چکیده

در این تحقیق، نانوکامپوزیت سولفید تنگستن (WS2) و پلی آنیلین (PANI) در یک فرآیند پلیمریزاسیون یک مرحله ای با موفقیت سنتز شد. نمونه‌های WS2 PANI و WS2 خالص سنتز شده برای مشخصه یابی تحت آنالیزهای پراش پرتو X (XRD)، میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدان (FESEM) و طیف نگاری رامان قرار گرفتند. نتایج ساختار بلوری شش گوشی را برای نمونه‌های کامپوزیت نشان داد. ارتفاع قله‌های XRD در نمونه کامپوزیتی در مقایسه با نمونه اولیه افزایش یافت. نتایج FESEM صفحات نازک تشکیل دهنده WS2 را با ضخامت حدود 50 نانومتر به همراه پلیمرهای PANI بر روی آن در ابعاد و شکل‌های مختلف نشان داد. طیف نگاری رامان حالت‌های فعال مربوط به PANI را نشان داد که نشان سنتز این پلیمر رسانا دارد. قله‌های فاز 1T و 2H مربوط به WS2در کنار قله‌های PANI در نمونه کامپوزیتی دیده شدند.

کليدواژه ها

سولفید تنگستن، پلی آنیلین، کامپوزیت، میکروسکوپ الکترونی روبشی، طیف نگاری رامان، ساختار بلوری شش گوشی، پلیمر رسانا

کد مقاله / لینک ثابت به این مقاله

برای لینک دهی به این مقاله، می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است :

نحوه استناد به مقاله

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این مقاله ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
قاسم حبیبی جتانی , 1401 , سنتز و مشخصه یابی نانو کامپوزیت های سولفید تنگستن پلی آنیلین , سومین کنفرانس ملی میکرو/نانوفناوری